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厦门德仪设备有限公司

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温度冲击实验箱

温度冲击实验箱
YP00685
DECS-100B

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  • 详细描述

温度冲击实验箱主要用途:用于电子电器零组件、自动化零部件、通讯组件、汽车配件、金属、塑胶等行业,国防工业、航天、兵工业、电子芯片IC、 半导体陶瓷及高分子材料之物理性变化,测试其材料对高、低温的反复抵拉力及产品于热胀冷缩产出的化学变化或物理伤害,可确认产品的品质,从精密的IC到重机械的组件,无一不需要它的理想测试工具。


温度冲击实验箱符合标准:

GB/T2423.1-2008(IEC60068-2-1:2007)低温试验方法 Ab

GB/T2423.2-2008(IEC60068-2-2:2007)高温试验方法Bb

GB2423.22-87温度变化试验方法

GJB150.5-86温度冲击试验

GJB360.7-87温度冲击试验

GJB367.2-87温度冲击试验(每立方米负载不大于35kg/m3钢的热容量,湿热试验时无有源湿、热负载)


温度冲击测试箱控制系统:主控制器采用进口高精度液晶显示触摸屏温度控制器。该控制器采用液晶显示触摸屏,可显示设定参数、试验曲线、运行时间、加热器工作状态,PID参数自整定功能。控制程序的编制采用人机对话方式,仅需设定温度,就可实现制冷机自动运行功能。控制系统具备完善的检测装置能自动进行详细的故障显示。报警,配置485通讯接口及运行软件。设定精度:温度:0.1℃ 时间:Is用户程序容量:10×99段。运行方式:程序运行,恒定运行。独立超温保护仪表。设备工作时间累计计时器。低温区、高温区转换时间小于等于15秒。 温度恢复时小于等于5分钟


温度冲击实验箱箱体结构

1、试验系统结构设计先进合理,GB/T2423.1-2001、GB/T 2423.2-2001、GB/T 2423.22-2001、GJB 150.3-2001

2、该试验箱主要功能元器件均采用世界名牌配置(含金量高)、技术原理先进可靠、噪音与节能得到最佳控制——其性能可替代国外同类产品。冷箱、热箱独立控制,箱门互相独立,扩大试验箱的使用范围(一箱三用)。

3、整机制冷系统采用PID演算控制,不需加配发热管消耗额外功率,省电高达35%

4、设备具有良好的操作性、维护性、良好的温度稳定性及持久性、良好的安全性能、不污染环境及危害人身健康。

试验箱门与循环风机,提蓝传动等互锁,保护操作者的安全,一旦打开箱门,循环风机和提蓝传动的电源会被自动切断。在箱顶有标准引线孔管,方便用户向箱内引入传感器线,检测电缆等类型引线。


温度冲击实验箱技术参数:

产品型号:DECS-100B -40(风冷式)

容积:尺寸和重量  标称内容积    (50L )

测试区内箱尺寸:   600*400*450mm

整机外型尺寸:(约) 1500*2000*2200mm

重     量 : (约)      (8000 )KG

测试环境条件:环境温度为+5~+28℃、相对湿度≤85%、试验箱内无试样条件下

测试方法:GB/T 2423.1-2001、GB/T 2423.2-2001、GB/T 2423.22-2001、GJB 150.3-2001

高低温区温度范围:1.高温区部分:60℃~200℃

低温区部分:-10℃~-55℃

测试区部分:180℃~-40℃

温度测试范围:1.高温:60℃~180℃  低温:-10℃~-55℃

高低温转换时间     ≤10S

高低温恢复时间     3~5min(非线性空载下)

控制精度:温度:±0.2℃(指控制器设定值和控制器实测值之差)

温度波动度:≤0.5℃(温度波动度为中心点实测最高温度和最低温度之差的一半)

温度误差:≤±1℃(工作室温度控制器显示值的平均温度减去中心点实测的平均温度)

温度均匀度:   ≤±2℃温度均匀度为每次测试中实测最高温度和最低温度之差的算术平均值)

预热区升温速度:   ≥3℃/min(非线性)

预冷区降温速度:≥2℃/min(非线性)


 厦门德仪公司主营产品:高低温交变湿热试验箱、高低温湿热试验箱、高低温交变实验箱、高低温试验箱、温度冲击实验箱恒温恒湿试验箱、步入室恒温恒湿室、低温恒温恒湿箱、低温低湿箱、低温恒温箱、换气式老化箱、换气式热老化箱、氙灯老化试验箱、紫外线耐候试验箱、臭氧老化试验箱、淋雨试验箱、摆管淋雨装置、强冲水试验装置、防浸水试验装置、砂尘试验箱、盐雾试验箱、耐黄变试验箱、电磁振动试验台、模拟汽车运输振动试验台、单臂跌落实验机、双翼跌落试验机、零跌落试验机、手机跌落试验机、门式微控万能材料试验机、门式液晶显示拉力试验机、单柱微控拉力试验机、单柱液晶显示拉力试验机、纸箱强度试验机、常温干燥箱、真空干燥箱、电热鼓风干燥箱、精密烘干箱、玻璃器皿干燥箱等环境试验设备。

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